|
제 9회 테스트 학술대회가 2008년 6월 25일 양재동 교육문화회관에서 성공적으로 개최되었습니다.
본 학술대회의 주제는 "고성능, 고용량 추세 속에서의 테스트 해법" 입니다. 반도체의 고성능화, 고집적화, 다양화에 따른 테스
트의 어려움과, 테스트 비용 상승의 문제에 대한 다양한 연구 성과를 발표하고, 토론하는 충실한 기회가 되었습니다.
테스트 관련 전 분야에 걸친 연구 성과를 통해 국내 테스트 관련 기술 발전에 도움이 될 것으로 기대합니다. 학술대회에 참여하
신 분들께 다시 한 번 감사의 말씀을 드립니다. |
|
