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홈 > 워크샵 > 2011테스트기술워크샵 |
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| 14:00 ~ 14:10 |
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개회식 |
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| 14:10 ~ 15:00 (50분) |
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좌장 : 박정식 상무 |
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| SOC Product Key Test Challenges |
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윤성준(삼성전자) |
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| 15:10 ~ 16:00 (50분) |
좌장 : 천범익 박사 |
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| The Challenge for Memory Test |
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이대희(하이닉스) |
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| 16:00 ~ 16:50 (50분) |
좌장 : 강성호 교수 |
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| SOC ATE System Design for TFx |
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고진수(테라다인) |
| 16:50 ~ 17:40 (50분) |
좌장 : 박성주 교수 |
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| SOC Device Trend & introduction to ATE Solution |
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Masashi Nagai(아드반테스트) |
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| 17:40 ~ 18:20 |
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토론 및 폐회식 |
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사회 : 백상현 교수 |
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